This is a multi-part message in MIME format. --------------F0DF5AF1D720F079A96969A6 Content-Type: text/plain; charset=iso-2022-jp Content-Transfer-Encoding: 7bit prの皆様 この場をお借りして,日本テスト学会第1回大会(大会委員長:繁桝算男教 授(東大))の案内をさせて頂きます. 期日:10月4日(土曜日)午前9時30分より午後6時まで, 午後6時30分より懇親会(参加費:7000円) 場所:東京大学駒場キャンパス 参加費(当日払い込みの場合):会員は2500円,非会員は3500円 プログラムとしては,午前中は,企画セッション(知能テスト,性格テス ト,適性テスト,生活習慣テストの4種の心理テストの過去・現在・ 未来についての講演),および,二部屋を使っての一般講演(14件) の発表があります.午後は,池田央理事長(立教大学名誉教授)の講演, および5人の演者による公開シンポジウム 「これからの社会に役立つテスト技術」 においてCBTを実際に用いた研究事例などが発表されます. なお,上記テスト学会の詳細(入会申しこみの仕方を含む),および日本 テスト学会第1回大会の詳細(プログラム等)につきましては, ホームページ:http://www.jartest.jp をごらんください. (柳井晴夫:日本テスト学会副理事長) --------------F0DF5AF1D720F079A96969A6 Content-Type: text/x-vcard; charset=iso-2022-jp; name="yanai.vcf" Content-Description: Haruo YANAIi�ーvj フJ[h Content-Disposition: attachment; filename="yanai.vcf" Content-Transfer-Encoding: 7bit begin:vcard n:Yanai;Haruo tel;fax:81-5478-1297 tel;work:81-3-5478-1283 x-mozilla-html:FALSE org:National Center for University Entrance Examinations;,2-19-23,Komaba,Meguro,Tokyo,153-8501,Japan adr:;;2-19-23;Komaba,Meguro;Tokyo2-19-23,Komaba,meguro,Tokyo,Japan,;153-8501;Japan version:2.1 email;internet:yanai (at) rd.dnc.ac.jp title:Research Division,Tel:81-3-5478-1283 fn:Haruo YANAI(柳井晴夫) end:vcard --------------F0DF5AF1D720F079A96969A6--
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