[fpr 3149] 研究会「DiagnosticItem Analysis」等ご案内

Hidetoki ISHII

皆さま

 東京大学大学院教育学研究科教育測定・カリキュラム開発(ベネッセ
コーポレーション)講座およびCRET(教育テスト研究センター)で
は,以下の日程で研究会を開催致します.関心をお持ちの皆さまにご参
加いただけましたら幸いです.
 資料準備等の都合上,事前に参加申し込みをして下さいますようお願
い申し上げます.2つの講演のうち,一方のみの参加でも結構です.
参加希望をされる方は,お名前,ご所属,研究会名を,
sokuteiアットマークp.u-tokyo.ac.jp
までご連絡下さい.
 多くの方々のご参加をお待ちしております.

          東京大学大学院教育学研究科  渡部 洋
                         石井秀宗
 記

講演者:William M. Bart (ミネソタ大学教育心理学科.認知心理学)
日 時:7月9日(月) 13:00〜17:30
場 所:東京大学本郷キャンパス 教育学研究科第一会議室
   (赤門を入ってすぐ左の建物1階)
講演1(13:00〜15:00)
 Diagnostic Item Analysis: The Dense Item Perspective
講演2(15:30〜17:30)
 Toward the Integration of Cognitive Diagnosis, Diagnostic Item
Analysis, and Internet-Based Instruction

 以上



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