[fpr 3788] 人工知能によるテスト技術：eテスティングが切り開く新しい評価

（電子フライヤー）
http://www.jartest.jp/pdf/meeting14_2016.pdf

植野真臣　博士（工学）
 電気通信大学 情報理工学研究科　情報・ネットワーク工学専攻　教授



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（代理投稿）

多摩大学経営情報学部
大森拓哉
ohmori (at) tama.ac.jp
TEL 042-337-7143

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